เครื่องวัดผิวโปรไฟล์ขนาดกะทัดรัดที่ล้ำสมัยที่สุด Extended Range Profilometer AFMPro

สุดยอดการวัดพื้นผิว
ด้วยการวัดความยาวคลื่นทางกายภาพโดยตรงที่เชื่อมโยงกับความสูงที่เฉพาะเจาะจง
เครื่องวัดพื้นผิวเชิงแสงของ NANOVEA ให้ความแม่นยำที่เหนือชั้นในการวัดพื้นผิวบนวัสดุใดๆ
เซ็นเซอร์ความเร็วสูงที่มีในระบบสามารถทำได้เร็วกว่าเดิมถึง 200 เท่า
ไม่มีอัลกอริทึม ไม่มีการต่อภาพ ไม่เสียเวลา

ATOMIC FORCE MICROSCOPE	HIGH SPEED OPTICAL PROFILER	VIDEO MICROSCOPE

ANGSTROM RANGE AFM expands 3D capabilities into sub-nanometer range down to a single angstrom, including laterally, which is not attainable with any optical technique.

SUPREME PROFILOMETRY

By measuring the direct physical wavelength linked to a specific height,
NANOVEA Optical Profilers provide unmatched accuracy of surface measurements on any material.
High Speed sensors, available on the system, can do it up to 200 times faster.
No algorithms. No stitching. No wasted time.

SPACIOUS OPEN PLATFORM

200 x 150 mm X-Y stages and adjustable height clearance up to 150 mm make AFMPro ideal for a wide range of samples with varied geometries..
Stitching Free!

QC options are available to automate all aspects of testing, including macro programs, pattern recognition, database communication and analysis recipes. The advanced software makes it easy to select zones on screen to be scanned automatically by an Optical Profiler or AFM.