เครื่องวัดความหนาสี Coating Thickness Gauge SWT-Series (SANKO JAPAN)

1. หัววัดการเชื่อมต่อที่เลือกได้ตามวัตถุประสงค์
- รองรับการใช้งานหัววัดที่หลากหลาย สามารถเปลี่ยนหัววัดให้เหมาะกับลักษณะพื้นผิวและการใช้งานเฉพาะด้าน
- เพิ่มประสิทธิภาพในการทำงานด้วยหัววัดสำรอง

2. หน้าจอแสดงผลเข้าใจง่าย
- หน้าจอ LCD แสดงคำแนะนำขั้นตอนต่างๆ ชัดเจน เหมาะกับผู้ใช้ทุกระดับ

3. การเชื่อมต่อ USB เพื่อถ่ายโอนข้อมูล
- สามารถเชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ผ่านสาย USB
- รองรับการถ่ายโอนข้อมูลแบบเรียลไทม์หลังการวัด
- รองรับการถ่ายโอนข้อมูลแบบกลุ่ม (ยกเว้นรุ่น NEO)

4. สัญลักษณ์สำคัญเป็นภาษาญี่ปุ่น

- ปรับเปลี่ยนเป็นภาษาญี่ปุ่นเพื่อให้ผู้ใช้งานในประเทศเข้าใจได้ง่ายขึ้น

5. การตั้งค่าหน่วยวัด
- สามารถสลับหน่วยวัดเป็น "mil" ได้อย่างสะดวก

6. การออกแบบตัวเครื่อง
- ตัวเครื่องบางกว่ารุ่นก่อนหน้า
- จับถนัดมือ โดยเฉพาะสำหรับผู้หญิงหรือผู้ที่มีมือเล็ก
- ลดความเมื่อยล้าขณะใช้งานแบบถือ

7. ขาตั้งแบบเอียง
- มาพร้อมขาตั้งแบบเอียง ใช้งานสะดวกแม้ขณะยืน

8. ฟังก์ชันสถิติในตัว (เฉพาะรุ่น NEO-II และ NEO-III)
- ดูข้อมูลทางสถิติของหน่วยความจำ กลุ่ม บล็อก และส่วนต่างๆ ได้บนหน้าจอ

9. ฟังก์ชันเส้นโค้งการสอบเทียบ (เฉพาะรุ่น NEO-II และ NEO-III)
- NEO-II รองรับ 10 เส้นโค้ง / NEO-III รองรับ 100 เส้นโค้ง
- เริ่มงานวัดได้ทันทีเพียงเลือกเส้นโค้งที่ลงทะเบียนไว้

10. ฟังก์ชันตั้งค่าขีดจำกัดบน-ล่าง (เฉพาะรุ่น NEO-II และ NEO-III)
- ตั้งค่าขีดจำกัดได้ 1 ชุดต่อเส้นโค้ง
- หากค่าที่วัดเกินขอบเขต จะมีการแจ้งเตือนด้วยเสียงและแสดงผลกะพริบ

11. หน่วยความจำขนาดใหญ่ (เฉพาะรุ่น NEO-II และ NEO-III)
- NEO-II บันทึกได้ 20,000 จุด / NEO-III บันทึกได้ 40,000 จุด
- เหมาะสำหรับการวัดหลายจุดต่อวัน
- ข้อมูลถูกจัดเก็บแยกเป็นกลุ่ม บล็อก ฯลฯ

12. เอาต์พุตไร้สายไปยังเครื่องพิมพ์ (เฉพาะรุ่น NEO-III)
- ใช้เครื่องรับสัญญาณเฉพาะ (จำหน่ายแยก) สำหรับส่งข้อมูลแบบไร้สายด้วยคลื่นวิทยุกำลังต่ำ

Connection probes can be selected according to the measurement purpose.

By making the probes compatible, you can freely select the connection probe that suits your application and object to be measured. It is now possible to have spare probes and various probes that match the shape of the substrate, greatly increasing work efficiency.

Easy-to-understand guide display screen

Easy-to-understand guide display of operating procedures on the LCD screen.

Data can be transferred to a computer via USB connection

Measurement data can be transferred by connecting to a computer using a USB cable.
Transfer in real time each time a measurement is taken.
It is also possible to send stored data in bulk (excluding NEO).

key notation

Key notation has been changed to Japanese to make it easier to understand.

Unit settings

Officially equipped with a function to switch the unit setting to "mil".

slim body design

The body is cleaner and slimmer than conventional film thickness gauges.
Excellent grip for women and people with small hands.
Reduces fatigue during handheld work.

tilt stand

Equipped with a new tilt stand that can be used while standing up.

Built-in statistics function (NEO-II / NEO-III)

Statistics on all memory data and data in groups, blocks, and sections can be viewed on the LCD screen.

Calibration curve registration function (NEO-II / NEO-III)

The number of registered calibration curves is 10 (NEO-II) and 100 (NEO-III).
You can start measurement work immediately by registering and selecting a calibration curve that matches the characteristics.

Upper limit value/lower limit value limit function (NEO-II / NEO-III)

One set of limit values can be set for each registered calibration curve.
If the measured value falls outside the upper/lower limit range, the set limit value will blink and an alarm will notify you.

Large capacity measurement value memory function (NEO-II / NEO-III)

The data memory function allows one person to perform multi-point measurements, where thousands of film thickness inspections are performed per day.
You can save labor and reduce costs in inspection work.
The number of memories is 20,000 points (NEO-II) and 40,000 points (NEO-III).
You can work without worrying about remaining memory.
Measured data is divided into groups, blocks, etc. and saved.

Wireless output to printer (NEO-III)

Using a dedicated receiver (sold separately), data can be transferred to the printer using a specified low-power radio exclusive to Japan.

Item	SWT-NEO	SWT-NEOII	SWT-NEOIII
Model	SWT-NEO	SWT-NEOII	SWT-NEOIII
Measurement Range	—	Varies depending on connected probe	Varies depending on connected probe
Display Method	Graphic LCD (data, messages) with backlight function	Graphic LCD (data, messages) with backlight function	Graphic LCD (data, messages) with backlight function
Calibration	—	2-point calibration (zero point, standard adjustment)	2-point calibration (zero point, standard adjustment)
Calibration Setting & Storage	1 each for ferrous & non-ferrous	Up to 10 curves	Up to 100 curves
Measurement Data Memory	—	Up to 20,000 data	Up to 40,000 data
Data Transfer	USB	USB	USB + Specific Low-Power Wireless (Japan only)
Statistics Function	—	Built-in	Built-in
Additional Functions	• Measurement mode switch (Hold/Continuous) • Auto Power-Off (~3 min)	• Measurement mode switch (Hold/Continuous) • Display resolution switch • Unit switch (μm/mil) • Auto Power-Off (~3 min) • Tilt Stand • Lower limit setting (NEO-II, NEO-III only)	Same as NEO-II
Power Supply	Single 3V lithium battery (CR2)	2x AA alkaline batteries (Approx. 25 hrs continuous use) or AC adapter	AC adapter
Operating Temperature	0–40°C (Avoid condensation)	0–40°C (Avoid condensation)	0–40°C (Avoid condensation)
Dimensions / Weight	72(W) x 32(D) x 156(H) mm, approx. 200g (including battery)	Same	Same
Accessories Included	Battery, storage case, hand strap cord, warranty & user registration card, instruction manual	Battery, carrying case, hand strap cord, warranty & user registration card, instruction manual (CD included), AC adapter, USB transfer cable, CD with driver	Same as NEO-II
Optional Accessories	Probe, AC adapter, USB transfer cable	Probe, AC adapter, USB transfer cable	Probe, SWT-NEOIII dedicated wireless printer unit

Model	SFe-2.5 / SFe-2.5L	SFe-2.5LwA	SFe-0.6Pen	SFe-0.6L	SFe-10	SFe-20
Measurement Method	Electromagnetic induction type	Same	Same	Same	Same	Same
Measurement Range	0–2.50 mm	0–2.50 mm	0–600 μm	0–600 μm	0–10 mm	0–20 mm
Display Resolution	1 μm: 0–999 μm 0.01 mm: 1.00–2.50 mm (switchable) 0.1 μm: 0–400 μm 0.5 μm: 400–500 μm	Same	1 μm: 0–600 μm (switchable) 0.1 μm: 0–400 μm 0.5 μm: 400–500 μm	0.1 mm: 1–10 mm	0.01 mm: 1–5 mm 0.1 mm: 5–20 mm
Measurement Accuracy (relative to standard)	0–100 μm: ±1 μm or ±2% of reading 101 μm–2.50 mm: ±2% of reading	Same	0–100 μm: ±1 μm or ±2% of reading 101 μm–600 μm: ±2% of reading	0–3 mm: ±(5 μm + 3% of reading) ≥3.01 mm: ±3% of reading
Probe	1-point constant pressure contact, with V-cut SFe-2.5: approx. φ15×47 mm SFe-2.5L: approx. φ18×22×67 mm	1-point constant pressure contact, V-cut included approx. φ24×27×56 mm Cable length: approx. 546–1530 mm	1-point constant pressure contact, with V-cut approx. φ5.5×92.5 mm	1-point constant pressure contact, with V-cut approx. φ8.13×119 mm (Minimum measurable diameter φ16)	1-point constant pressure contact, with V-cut approx. φ21×47 mm	1-point constant pressure contact, with V-cut approx. φ35×55 mm
Options	V-type probe adapter (for ≤φ5, φ5–10, φ10–20)	—	—	—
Included Accessories	Standard thickness plate, zero plate for iron use	Same	Same	Same
Measurement Targets	Coating, lining, plating, and other layers on magnetic metal substrates (excluding thick electrolytic nickel, etc.)	Same (suitable for high places or narrow areas)	Small areas, inner diameters of narrow pipes	Comparatively thick coatings, linings, etc.	Thick coatings and linings, etc.

Model	SNFe-2.0 / SNFe-2.0L	SNFe-0.6	SNFe-5	SNFe-8
Measurement Method	Eddy current method	Eddy current method	Eddy current method	Eddy current method
Measurement Range	0–2.00 mm	0–600 μm	0–5.00 mm	0–8.00 mm
Display Resolution	1 μm: 0–999 μm 0.01 mm: 1.00–2.00 mm 0.1 μm: 0–400 μm 0.5 μm: 400–500 μm	1 μm: 0–600 μm (switchable) 0.1 μm: 0–400 μm 0.5 μm: 400–500 μm	1 μm: 0–999 μm 0.01 mm: 1–5 mm	1 μm: 0–999 μm 0.01 mm: 1–8 mm
Measurement Accuracy (relative to standard)	0–100 μm: ±1 μm or ±2% of reading 101 μm–2.00 mm: ±2% of reading	Same	0–3 mm: ±(5 μm + 3% of reading) >3.01 mm: ±3% of reading	Same
Probe	Constant pressure contact, V-cut type SNFe-2.0: approx. φ15×47 mm SNFe-2.0L: approx. φ18×22×67 mm	Constant pressure contact, V-cut type approx. φ9.13×45.5 mm	Constant pressure contact, V-cut type approx. φ20.5×47 mm	Constant pressure contact, V-cut type approx. φ35×59 mm
Options	V-type probe adapter (3 sizes: ≤φ5, φ5–10, φ10–20)	—	—	—
Accessories Included	Standard thickness plate, zero plate (non-ferrous)	Same	Same	Same
Measurement Target	General-purpose insulation film on aluminum, copper, and other non-magnetic metals	Thin wires, pipes, micro parts requiring high stability	Thicker measurement targets	Thick urethane coatings, etc.

Model	SFN-325
Measurement Method	Electromagnetic induction & eddy current combination (auto substrate detection: ferrous / non-ferrous)
Measurement Range	Ferrous substrate: 0–3.00 mm Non-ferrous substrate: 0–2.50 mm
Display Resolution	1 μm: 0–999 μm 0.01 mm: 1.00–3.00 mm (ferrous) 0.01 mm: 1.00–2.50 mm (non-ferrous)
Measurement Accuracy	0–100 μm: ±1 μm or ±2% of reading 101 μm–3.00 mm (ferrous): ±2% of reading 101 μm–2.50 mm (non-ferrous): ±2% of reading
Probe	Constant pressure contact, V-cut type approx. φ15×51 mm
Options	V-type probe adapter (3 sizes: ≤φ5, φ5–10, φ10–20)
Accessories Included	Standard thickness plate, zero plate for both ferrous and non-ferrous
Measurement Target	Ferrous substrate: Paint, lining, plating, etc. on magnetic metal (excluding electrolytic nickel, etc.) Non-ferrous substrate: Insulation film on aluminum, copper, etc.